OPAC 2.0

ข้อมูลบรรณานุกรม #142722

แบบย่อ |แบบเต็ม |MARC

ตัวอย่าง เพิ่มแท็ก เพิ่มรายการ แบ่งปัน แนะนำ สั่งซื้อ บันทึก ส่งออก Citation

ความนิยม

ประเภทวัสดุ

หนังสือ

ชื่อเรื่อง	Accelerated reliability and durability testing technology / Lev M. Klyatis.
LC Call #	TS173 K49 2012
ผู้แต่ง	Klyatis, Lev M.
หัวเรื่อง	Reliability (Engineering)
	Accelerated life testing.
ISBN	9780470454657 :
	0470454652
พิมพลักษณ์	Hoboken, NJ : Wiley, c2012.
เชื่อมโยง	Contents.

ชื่อเรื่อง	Accelerated reliability and durability testing technology / Lev M. Klyatis.
LC Call #	TS173 K49 2012
ผู้แต่ง	Klyatis, Lev M.
ISBN	9780470454657 :
	0470454652
พิมพลักษณ์	Hoboken, NJ : Wiley, c2012.
หัวเรื่อง	Reliability (Engineering)
	Accelerated life testing.
เชื่อมโยง	Contents.
ลักษณะทางกายภาพ	xviii, 411 p. :ill.

LDR		00903nam 2200289 a 4500
001		142722
005		20140318093257.0
008		120417s2012 njua 001 0 eng d
020	__	‡a9780470454657 :‡c฿4330.00
020	__	‡a0470454652
040	__	‡aSUTL
050	00	‡aTS173‡bK49 2012
100	1_	‡aKlyatis, Lev M.
245	10	‡aAccelerated reliability and durability testing technology /‡cLev M. Klyatis.
260	__	‡aHoboken, NJ :‡bWiley,‡cc2012.
300	__	‡axviii, 411 p. :‡bill.
504	__	‡aIncludes bibliographical references and index.
650	_0	‡aReliability (Engineering)
650	_0	‡aAccelerated life testing.
850	__	‡aSUTCL
856	__	‡uhttp://sutlib2.sut.ac.th/sut_contents/H142722.pdf‡zContents.
910	__	‡aInformation Technology
910	__	‡aManufacturing Engineering

ทรัพยากร | รายการสั่งซื้อ

เลือกห้องสมุด :

	บาร์โค้ด	เลขหมู่/เล่มที่	Collection	ห้องสมุดสาขา	สถานที่จัดเก็บ	สถานะ
	31051001841168	TS173 K49 2012	Book	ศูนย์บรรณสารฯ มทส.	อาคารบรรณสาร 1 ชั้น 2	อยู่บนชั้น
	31051002014625	TS173 K49 2012 c. 2	Book	ศูนย์บรรณสารฯ มทส.	อาคารบรรณสาร 1 ชั้น 2	อยู่บนชั้น

ห้องสมุด	วันที่สั่งซื้อ	สำเนา	สถานะ
SUT Library	31 พ.ค. 2555	2	Completely Received

เพิ่มความเห็น

ชื่อของคุณ

ความเห็น

เพิ่มบทวิเคราะห์

ชื่อของคุณ

เนื้อหา

เพิ่มรายการ

ชื่อเรื่อง

สร้างใน

เก็บในโฟลเดอร์เดียวกันทุกรายการ

สร้างโฟลเดอร์

ชื่อโฟลเดอร์

ผลลัพธ์การเพิ่มรายการ

สถิติ